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激光干涉測(cè)量中, 雙折射問(wèn)題及解決方法
日期:2024-11-22 02:27
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摘要:
雙折射(birefringence), 是指一束入射光透射過(guò)光學(xué)材料后,產(chǎn)生兩束折射光線的現(xiàn)象。雙折射的成因是,晶體介質(zhì)的折射率是各向異性的,與偏振方向相關(guān)。一束入射光在各向異性的晶體中,會(huì)分解成兩束偏振方向互相垂直、折射角不同的光波。
標(biāo)準(zhǔn)激光干涉儀,一般使用圓偏振光測(cè)試,所以在測(cè)量各向異性晶體的透射波前時(shí),會(huì)出現(xiàn)明顯的雙折射效果,產(chǎn)生寄生干涉條紋,使移相測(cè)量失敗。(如下圖)
圓偏折下雙折射樣品的透過(guò)波前條紋
如何解決“雙折射”對(duì)干涉測(cè)量的影響?
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雙折射(birefringence), 是指一束入射光透射過(guò)光學(xué)材料后,產(chǎn)生兩束折射光線的現(xiàn)象。雙折射的成因是,晶體介質(zhì)的折射率是各向異性的,與偏振方向相關(guān)。一束入射光在各向異性的晶體中,會(huì)分解成兩束偏振方向互相垂直、折射角不同的光波。
標(biāo)準(zhǔn)激光干涉儀,一般使用圓偏振光測(cè)試,所以在測(cè)量各向異性晶體的透射波前時(shí),會(huì)出現(xiàn)明顯的雙折射效果,產(chǎn)生寄生干涉條紋,使移相測(cè)量失敗。(如下圖)
圓偏折下雙折射樣品的透過(guò)波前條紋
如何解決“雙折射”對(duì)干涉測(cè)量的影響?
· *上乘的解決方案,是在激光干涉儀上加裝偏振態(tài)切換裝置(Switchable Polarization Kit), 將測(cè)試激光切換為線偏振,再將各向異性樣品的O光方向與測(cè)試光偏振方向保持一致,就可以消除雙折射影響了。
這一方式在干涉腔外改變測(cè)試光偏振態(tài),對(duì)干涉腔和計(jì)量結(jié)果影響*小。但需要在在采購(gòu)干涉儀之初,就做好計(jì)劃加裝相關(guān)裝置。
· 其次可以在干涉腔內(nèi)加裝起偏器,或者1/4波片。但這些方式都會(huì)引入波片或起偏器的透射誤差;并且起偏器對(duì)條紋對(duì)比度還有比較大的影響。